X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀
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產品名稱:
X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀
產品型號:
德國FISCHER X-RAY XDL 230
產品展商:
其它品牌
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簡單介紹
德國FISCHER X-RAY XDL 230 X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀是一款應用廣泛的能量色散型X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀，它非常適用于無損測量鍍層厚度、材料分析和溶液分析。
X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀 的詳細介紹
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德國FISCHER X-RAY XDL 230
X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀是一款應用廣泛的能量色散型X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀，它非常適用于無損測量鍍層厚度、材料分析和溶液分析。
德國FISCHER X-RAY XDL 230 X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀產品簡介：
FISCHERSCOPE X-RAY XDL
230是一款應用廣泛的能量色散型X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀。它非常適用于無損測量鍍層厚度、材料分析和溶液分析，同時還能檢測大規模生產的零部件及印刷線路板上的鍍層。
XDL230
有著良好的長期穩定性，這樣就不需要經常校準儀器，比例接收器能實現高計數率，這樣就可以進行高精度測量。由于采用了FISCHER完全基本參數法，因此無論是對鍍層系統還是對固體和液體樣品，儀器都能在沒有標準片的情況下進行測量和分析。
德國FISCHER X-RAY XDL 230 X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀產品應用：
測量大規模生產的電鍍部件
測量超薄鍍層，例如：裝飾鉻
測量電子工業或半導體工業中的功能性鍍層
測量印刷線路板
分析電鍍溶液
我們會努力按照原廠技術參數翻譯編輯，如技術參數中英文有差異，以英文參數為準。
德國FISCHER X-RAY XDL 230 X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀技術參數：
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通用規格
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設計用途
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能量色散型X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀（EDXPF），
用于測定超薄鍍層和溶液分析。
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元素范圍
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從元素氯（17）到鈾（92）
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配有可選的WinFTM®BASIC軟件時，多時可同時測定24種元素
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設計理念
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臺式儀器，測量門向上開啟
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測量方向
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由上往下
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X射線源
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X射線管
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帶鈹窗口的鎢管
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高壓
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三檔：30KV，40KV，50KV
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孔徑（準直器）
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φ0.3mm 可選：φ0.1mm；φ0.2mm；長方形0.3mm x 0.05mm
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測量點尺寸
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取決于測量距離及使用的準直器大小
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實際的測量點大小與視頻窗口中顯示的一致
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較小的測量點大小約φ0.2mm
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X射線探測
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X射線接收器
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比例接收器
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測量距離
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0~80mm，使用專有保護的DCM測量距離補償法
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樣品定位
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視頻系統
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高分辨率CCD彩色攝像頭，沿著初級X射線光束方向觀察測量位置
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手動聚焦，對被測位置進行監控
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十字線（帶有經過校準的刻度和測量點尺寸）
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可調節亮度的LED照明，激光光點用于準確定位樣品
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放大倍數
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40x~160x
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電器參數
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電源要求
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200V，50Hz
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功率
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很大120W（不包括計算機）
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保護等級
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IP40
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尺寸規格
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外部尺寸
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寬x深x高（mm）：570x760x650
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內部測量室尺寸
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寬x深x高（mm）：460x495x（參考“樣品較大高度”部分的說明）
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重量
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107KG
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環境要求
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使用時溫度
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10℃~40℃
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存儲或運輸時溫度
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0℃~50℃
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空氣相對濕度
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≤95% 無結露
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工作臺
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設計
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手動X/Y平臺
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X/Y平臺較大移動范圍
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92x150mm
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可用樣品放置區域
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420x450mm
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Z軸
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馬達驅動
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Z軸移動范圍
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140mm
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樣品很大重量
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20KG
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樣品很大高度
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140mm
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激光（1級）定位點
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有
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計算單元
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計算機
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帶擴展卡的Windows®計算機系統
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軟件
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標準：WinFTM®V.6 LIGHT
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可選：WinFTM®V.6 BASIC，PDM，SUPER
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執行標準
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CE合格標準
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EN 61010
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型式許可
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作為受完全保護的儀器
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型式許可完全符合德國“Deutsche Rontgenverordnung-RoV”法規的規定
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